區(qū)分 | 種類 | 形狀 | 檢測中心距離 和檢測范圍 |
分辨率 | 光束直徑 | 型號 | 激光等級 |
小型·超 高精度 |
小光點型 | 10±1mm | 0.25μm | 約φ20μm | HL-C201AE | CLASS1 | |
線性光點型 | 約20×700μm | HL-C201AE-MK | |||||
超高精度 | 小光點型 | 30±5mm | 0.25μm | 約φ30μm | HL-C203BE | CLASS2 | |
線性光點型 | 約30×1200μm | HL-C203BE-MK | |||||
中距離·高精度 | 小光點型 | 110±15mm | 0.25μm | 約φ80μm | HL-C211BE | CLASS2 | |
HL-C211CE | CLASS3R | ||||||
線性光點型 | 約80×1700μm | HL-C211BE-MK | CLASS2 | ||||
HL-C211CE-MK | CLASS3R | ||||||
長距離·高精度 | 小光點型 | 350±50mm | 0.5μm | 約φ250μm | HL-C235BE | CLASS2 | |
HL-C235CE | CLASS3R | ||||||
線性光點型 | 約250×3500μm | HL-C235BE-MK | CLASS2 | ||||
HL-C235CE-MK | CLASS3R |
種類 | 小光點型 | 線性光點型 | 小光點型 | 線性光點型 | |||||
項目 | 型號 | HL-C235BE | HL-C235BE-MK | HL-C235CE | HL-C235CE-MK | ||||
設置模式 | 擴散反射時 | 正反射時 | 擴散反射時 | 正反射時 | 擴散反射時 | 正反射時 | 擴散反射時 | 正反射時 | |
檢測中心距離 | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | |
檢測范圍( 注2 ) | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | |
分辨率(平均次數(shù))(注3) | 2.0μm [256次] 0.5μm [4096次] | ||||||||
線性度( 注4 ) | ±0.03% F.S. | ||||||||
溫度特性 | 0.01% F.S./ ℃ | ||||||||
光源 | 紅色半導體激光 級別2(JIS/IEC) 最大輸出1mW、投光波峰波長658nm |
紅色半導體激光 級別2(JIS/IEC) 最大輸出5mW、投光波峰波長658nm | |||||||
光束直徑( 注5) | 約φ250μm | 約250×3500μm | 約φ250μm | 約250×3500μm | |||||
受光元件 | 線性圖像傳感器 |
(注1): 未指定時的檢測條件如下:連接控制器、電源電壓:24V DC、周圍溫度=+20℃、取樣周期40μs、平均次數(shù)256次、檢測中心距離、由白陶瓷制成的檢測物體、數(shù)字測定值。
(注2):取樣周期為20μs及10μs時的檢測范圍如下表所示。
型號 | HL-C235□-MK | ||
設置模式 | 擴散反射時 | 正反射時 | |
取樣周期 | 20μs | 0~+50mm | 0~+42mm |
10μs | +36~+50mm | +36~+42mm |
(注3)通過將P-P值換算成距離得到這些值。P-P值表示通過檢測中心距離測定值的分布。
(注4)此值表示采用本公司的標準檢測物體進行檢測時,相對于數(shù)字變位輸出的理想直線的誤差。此值會根據(jù)檢測對象的特征而改變。
(注5) 這是檢測中心距離上的值。以中心光強度的1/e2(約13.5%)定義這些值。如果定義區(qū)域外有光泄漏,并且檢測點周圍有高于檢測點本身的強反射,檢測結果可能會受到影響。
HL-C235BE
SUNX日本神視變位傳感器:超高速·高精度激光位移傳感器 0512-67599599SUNX日本神視變位傳感器
光/反射型
超高速·高精度激光位移傳感器
HL-C235
超高速·高精度激光位移傳感器
HL-C2
超高速激光變位傳感器 [CCD型]
HL-C1
微型激光位移傳感器
LM10
光/透過型
超小型激光線性傳感器
HL-T1
LED線性傳感器
LA-300
磁性位移
高速·高精度渦電流型數(shù)字位移傳感器
GP-X
高精度渦電流型位移傳感器
GP-A
sunx神視變位傳感器 HL-C235BE HL-C235 SUNX日本神視變位傳感器:超高速·高精度激光位移傳感器 0512-67599599