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阻抗分析儀HP4191A,安捷倫4191A 含惠普16092A夾具 其技術(shù)指標(biāo)為:頻率:20kHz-1000MHz;
阻抗分析儀HP4191A,安捷倫4191A 含惠普16092A夾具
HP4191A:
測試材料的阻抗Z,導(dǎo)納Y,電感L,電阻R,介電損耗D ,品質(zhì)因數(shù)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87
代替:高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
本檢定系統(tǒng)適用于射(高)頻集總參數(shù)阻抗計量器具(即檢測20kHz-1GHz頻段的R,L,C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件),規(guī)定了射頻(習(xí)慣上也稱高頻)集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
一、計量基準(zhǔn)器具
1、高頻集總參數(shù)阻抗的國家計量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值(包括電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率)的計量設(shè)備和量具。
2、射(高)頻集總參數(shù)阻抗計量基準(zhǔn)器具包括:
2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn),其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經(jīng)理論計算求得。它用以校準(zhǔn)按反射系數(shù)測量原理設(shè)計的高頻阻抗***測量裝置??諝?nbsp;介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國家基準(zhǔn),本檢定系統(tǒng)移用它,有利于射(高)頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在(1-1000)MHz頻段,其技術(shù)指標(biāo)為:
反射系數(shù)模值|г|:1.000±0.002; 相角:±180°±0.5°。
二、高頻集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)
3、集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)包括:
3.1高頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)件50Ω,0Ω,0S。它們由國家基準(zhǔn)通過直接比對法傳遞量值,技術(shù)特性如下:
50Ω:|г|≤0.0025; 0Ω:殘余阻抗小于2mΩ; 0S:邊緣電容值0.080pF。
這些標(biāo)準(zhǔn)件用以校準(zhǔn)按電壓電流比原理設(shè)計的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測量儀器(校準(zhǔn)中還需使用直流以和低頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)伯)。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準(zhǔn)Q值、tgδ值等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準(zhǔn)確度阻抗測量儀器,也用作計量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,用以定標(biāo)低準(zhǔn)確度的阻抗標(biāo)準(zhǔn)量具。其技術(shù)指標(biāo)為:
頻率:20kHz-1000MHz;
阻抗|Z|:1Ω-10kΩ±(1-20%);
電容C:10pF-100nF±(0.5-20)%;
電感L:10nH-1.00μH±(0.5-20)%