聯(lián)系人：傅經(jīng)理
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俄歇電子能譜（AES）
測試項目：
1、表面元素搜索分析
針對產(chǎn)品表面涂層、鍍層、污點成分分析
2、表面和離子濺射一定深度再元素搜索分析
針對產(chǎn)品表面涂層、鍍層、污點成分分，隨著濺射深度增加，再做出內(nèi)部成分，可 對比
3、縱向分布分析
元素隨著深度變化含量曲線
4、元素含量分布圖
元素在產(chǎn)品表面上的分布圖
精確度：0.1-1%（在成分分析中，此精確度比較低，但對于一些極微小的雜質(zhì)來說，基本不用在做精確定量，知道主成分既可滿足大多數(shù)要求）
分析尺寸：能分析小至25納米的顆粒
應用領域：產(chǎn)品表面污染物、薄膜化學成分的分產(chǎn)品表面超薄涂層或雜質(zhì)的元素含量等
