 |
 |
 |
| 型號:JX136410HT-PCT-25半導體高壓蒸煮老_箱 | 型號:JX117325QX-5輻射測試儀 | 型號:JX117333ST2258A數(shù)字式四探針測試儀 |
一、半導體高壓蒸煮老_箱用途
高壓蒸煮老_箱 半導體高壓蒸煮老_箱用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、半導體行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，高壓壽命老_箱，三綜合試驗機。（精密設備，質量保證可靠）。
二、半導體高壓蒸煮老_箱特點
1. 圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)_全容器標準， 可防止試驗中結露滴水設計。
2. 圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱謃映寤魘云貳?/span>
3. 精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
4. 自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知_全門禁鎖定控制，專利_全門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
5.專利型packing，箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
6.實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical1micorn)。以確保箱內之純凈度。
7. 臨界點LIMIT方式自動_全保護，異常原因與故障指示燈顯示。
三、半導體高壓蒸煮老_箱性能指標
1. 溫度范圍: ＋110℃ ～ ＋132℃。
2. 溫度波動度: 0.5℃。
3. 溫度均勻度: 1.5℃。
4. 濕度范圍: 100%R.H飽和蒸氣（可測，不顯示，不可調)。
5. 濕度波動度: 1.5%R.H。
6. 濕度均勻度: 3.0%R.H。
7. 壓力范圍：
u相對壓力：+0 ～ 2.0kg/cm2。（注：可壓力范圍：+0 ～ 3.0kg/cm2）。
u壓力：1.0kg/cm2～ 3.0kg/cm2。
u_全壓力容量：4kg/cm2＝1個大氣壓＋3kg/cm2。
8. 循環(huán)方式: 水蒸氣自然對流循環(huán)。
9. 測時間設置：0 ～ 999 Hr。
10. 加壓時間：0.00kg/cm2～ 2.00kg/cm2約30分鐘。
12. 升溫時間: 由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13. 溫度變_速率為空氣溫度平均變_速率,而非產品溫度變_速率。
14.試驗內箱體積供選擇：
型號 | HT-PCT-25 | |||
內部尺寸 (直徑D)mm | 250x300 | |||
外箱尺寸 (WHD)mm | 500x500x700 | |||
循環(huán)方式 | 水蒸氣自然對流循環(huán) | |||
_ 全 保 護 | 缺水保護，超壓保護(具有自動/手動補水功能，自動瀉壓功能) | |||
配件 | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電源 | AC220V或AC380V , 50/60Hz。 | |||
注:
1. 在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。
2. 關于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃5℃,時所測量的性能。
4. 溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。
5. 以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。
用途：
1.電磁波輻射測試儀用于電磁環(huán)境電磁波輻射測試：居室、辦公室、計算機房、控制室、高壓線、發(fā)射塔電磁波輻射測量等
2.電磁波輻射測試儀用于電氣設備電磁波輻射測試：計算機、電視機、復印機、傳真機、電纜、藍牙無線系統(tǒng)、監(jiān)控器、手機電磁輻射測試、GSM基站、微波爐、空調、冰箱等電氣設備的電磁波輻射測試分析.
3.電磁波輻射測試儀用于電磁波輻射防護功能的測試：測試電磁防護服、電腦防輻射屏幕/防護材料的屏蔽電磁輻射功能 機要室或屏蔽機房的射頻信號監(jiān)視的電磁波輻射測量
應用于電腦電視視保屏、電腦輻射消除器、手機輻射消除貼等等產品的功能檢測、促銷配套。
4.電磁波輻射測試儀用于各種工作/生活環(huán)境的電磁波輻射測試，包括手機電磁輻射測試、調頻/電視/短波廣播、微波爐電磁輻射測量、計算機的無線設備、無線通信、射頻發(fā)射設備電磁輻射測量等；演示各類電磁波輻射源的相對強弱。
尺寸:14cm(長)x7cm(寬)x2.5cm(厚)
功能:測試電腦,電視和各種辦公自動_設備的電磁波輻射 并且有未關機報警提醒功能
測試范圍:在5HZ-5000MHZ頻率范圍內 靈敏度:1uw/平方cm精度: |1db |
參照標準：Hj/T10.2-1996(輻射環(huán)境管理導則電磁輻射監(jiān)測儀器和方法）
研發(fā)單位：中國輻射防護研究院
測試方法：
測量手機：打開儀器開關，將手機輻射源(一般在天線旁)部位靠近測試區(qū)約1－2厘米（根據(jù)手機的不同而調整不同的距離），顯示屏上將顯示出手機輻射值，此值就是該手機的電磁波輻射密度；
ST2258A型多功能數(shù)字式薄膜方阻測試儀簡介
概述
ST2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途半導體參數(shù)綜合測量裝置，是一款全自動電流量程的智能_數(shù)字_四探針測試儀！也稱電阻率測試儀|方塊電阻測量儀|體積電阻率測試儀，它可以測量單晶體|多晶體|納米涂層|高分子材料|導電塑料|導電橡膠|ITO膜|導電薄膜等金屬導體|非金屬半導體材料的電阻率|方塊電阻|方阻，也可測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻|方阻|表面電阻）。測試規(guī)范符合國家標準和美國試驗與材料協(xié)會ASTM標準，利用四端子測試原理，換上特制的四端子測試夾具，還可以對金屬導體、開關觸點的低、中值接觸電阻進行測量。
本測試儀特贈設測試結果分類功能，分類10類
儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字_鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳_鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭謃酉允盡?/span>
基本技術參數(shù)
1.測量范圍、分辨率
電 阻： 1.010-3～ 200.0103, 分辨率0.110-3～ 0.1103
電 阻 率： 1.010-3～ 20.0103-cm 分辨率0.110-3～ 0.1103-cm
方塊電阻： 1.010-3～ 20.0103/□ 分辨率1.010-3～ 0.1103/□
2.可測半導體材料尺寸
直 徑： 測試臺謃硬饈苑絞?15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺謃硬饈苑絞?H160mm, 其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等級
量程 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | ||
k-cm/□ | -cm/□ | m-cm/□ | |||||||
誤差 | 1.5%FSB 2LSB | 1.%FSB 2LSB | 0.5%FSB2LSB | 1.0%FSB 2LSB | |||||
