雙功能DualScope FMP20功能
• 可以配合所有基于磁感應(yīng)法和渦流法的探頭使用 • 自動(dòng)識(shí)別探頭
• 自動(dòng)識(shí)別底材 (FMP20)
• 儀器操作界面友好
• USB接口可以連接計(jì)算機(jī)
• 240x160像素高對比度大尺寸顯示屏
• 開機(jī)后即可測量
• 插入探頭即可測量
• 測量完成后聲音提示
• 通過簡單的零位修正就能適應(yīng)底材形狀(歸一化)
• 校準(zhǔn)簡便(使用一到兩片箔片)
• 針對罕見材料或者形狀復(fù)雜的產(chǎn)品設(shè)置主校準(zhǔn)模式 (需配合主校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片使用)
• 可以調(diào)節(jié)儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間和連續(xù)使用時(shí)間
• 儀器狀態(tài)顯示(例如：電量低時(shí)出現(xiàn)的警告信息)
• 鍵盤鎖/功能限制模式
• 滑蓋保護(hù)鍵盤
• 多語言顯示
• 測量結(jié)果的單位可在μm和mils之間切換
應(yīng)用程式存儲(chǔ)
• 可以儲(chǔ)存一個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
統(tǒng)計(jì)和計(jì)算
• 顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、 最大和最小值、讀數(shù)范圍。
測量方式
• 單次測量 • 用“連續(xù)測量”模式測量可以對樣品表面進(jìn)行 連續(xù)掃描。
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便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。
DualScope FMP20該通用型號(hào)為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動(dòng)的基板材料識(shí)別功能。 這兩個(gè)單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導(dǎo)電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號(hào)的附加功能包括多達(dá)20,000個(gè)讀數(shù)的擴(kuò)展內(nèi)存，多達(dá)100個(gè)可校準(zhǔn)應(yīng)用程序，塊的日期和時(shí)間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動(dòng)基材識(shí)別功能。
•外部按鍵觸發(fā)測量采集
•超過公差限制時(shí)的視覺和視覺警告
•選項(xiàng)藍(lán)牙或COM附加可用于默認(rèn)USB接口
測量應(yīng)用記憶體： -
•多達(dá)100個(gè)測量應(yīng)用的應(yīng)用存儲(chǔ)器，包括 校準(zhǔn)
•內(nèi)存多達(dá)20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個(gè)塊
•塊的日期和時(shí)間戳
•測量應(yīng)用的通用歸一化/校準(zhǔn)
•通過標(biāo)準(zhǔn)測試測量驗(yàn)證校正校準(zhǔn)、
該手持設(shè)備用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動(dòng)基板材料識(shí)別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項(xiàng)和相關(guān)過程能力指標(biāo)cp和cpk的計(jì)算。 如果超過公差設(shè)定限制，則可以給出聲音和視覺警告。
該器件配有多種探頭。 它還具有FISCHER DataCenter軟件，便于傳輸和歸檔測量數(shù)據(jù)。 它可以打印報(bào)告并提供全面的統(tǒng)計(jì)和圖形評估。 該設(shè)備適用于汽車工業(yè)，油漆制造加工和實(shí)驗(yàn)室等行業(yè)。 它也可以用于測試機(jī)構(gòu)和航空業(yè)。
測量策略與評估：
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲(chǔ)的測量規(guī)格
•相關(guān)多點(diǎn)測量的矩陣測量模式
•測量數(shù)據(jù)的平均值
•通過面積測量進(jìn)行測量采集
典型應(yīng)用：
DELTASCOPE®用于鋼和鐵的涂層
ISOSCOPE®用于鋁和其他有色金屬涂料
DUALSCOPE®具有自動(dòng)基板識(shí)別和兩種測量技術(shù)（磁感應(yīng)和渦流）的組合; DUALSCOPE可以測量鐵/鋼或非鐵磁金屬和非導(dǎo)電基材上的各種涂層
有色金屬，鐵或鋼的微米范圍內(nèi)的涂層
由有色金屬制成的厚涂層或鋼板上的保護(hù)涂層
