| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 希臘Thetametrisis | ||
| 是否支持加工定制 | 否 | ||
| 是否進(jìn)口 | 是 | ||
| 電源 | 230V | ||
| 光譜范圍 | 190nm-2500nm | ||
| 光斑直徑 | 350um | ||
| 用途范圍 | 材料表征，薄膜測(cè)厚 | ||
| 工作原理 | 白光反射光譜 | ||
| 光源 | 鹵素 | ||
| 測(cè)厚范圍 | 1nm-3mm | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 型號(hào) | FR-pRo | ||
干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測(cè)量光程差的，其測(cè)量精度之高是任何其他測(cè)量方法所無法比擬的。
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FR-pRo是模塊化和可擴(kuò)展的測(cè)量儀器系列，可根據(jù)客戶需求量身定制，并且能夠通過標(biāo)準(zhǔn)的吸光度/透射率和反射率測(cè)量，以及在溫度和環(huán)境受控環(huán)境下進(jìn)行薄膜表征，在各種不同的應(yīng)用中使用。
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應(yīng)用領(lǐng)域：
1、半導(dǎo)體晶片
2、液晶產(chǎn)品（CS,LGP,BIU）?
3、微機(jī)電系統(tǒng)
4、光纖產(chǎn)品
5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤（HDD,DVD,CD）
6、材料研究
7、精密加工表面
8、生物醫(yī)學(xué)工程
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產(chǎn)品特點(diǎn)：
1?、非接觸式測(cè)量：避免物件受損。
2?、可測(cè)多層薄膜厚度，厚度范圍：1nm-3mm。?
3、最大光譜：200-2500nm。
4?、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
5、納米級(jí)分辨率：垂直分辨率可以達(dá)0.1nm。
6、高速數(shù)字信號(hào)處理器：實(shí)現(xiàn)測(cè)量僅需幾秒鐘。
7?、掃描儀：閉環(huán)控制系統(tǒng)。
8、工作臺(tái)：氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
9?、測(cè)量軟件：基于bs?操作系統(tǒng)的用戶界面，強(qiáng)大而快速的運(yùn)算
技術(shù)參數(shù)：
典型案例：
其他型號(hào)膜厚儀：
邁可諾技術(shù)有限公司
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