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產(chǎn)品簡介
TC-Wafer校準儀,是一款專注晶圓溫場均勻性測量的儀器
TC-Wafer校準儀,是一款專注晶圓溫場均勻性測量的儀器
產(chǎn)品價格:¥\u9762\u8bae
上架日期:2024-06-24 02:58:27
產(chǎn)地:湖北武漢
發(fā)貨地:湖北武漢
供應數(shù)量:不限
最少起訂:1
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    品牌Mycro
    是否支持加工定制
    溫度范圍900℃
    晶圓尺寸2~12寸
    熱電偶測溫點數(shù)1~20
    可售賣地全國

    產(chǎn)品特點(部分)
    l 測溫準確 溫度偏差在±1.1℃以內(nèi)、采集周期為200ms,能準確測量晶圓溫廠均勻性;
    l 使用便捷 儀器集成度高,即插即用。測試記錄完整數(shù) 據(jù),并能自動生成測試報告,
    支持U盤、藍牙、無線網(wǎng) 絡等多種方式導出數(shù)據(jù)和報告;
    l 顯示直觀 最多支持20路實時測量(20路以上可定制),顯示實時點位圖及溫度分布圖,
    可在使用過程中實時觀察各點溫度變化;
    l 功能強大 10000條歷史數(shù)據(jù)存儲量,能以圖表形式調(diào)閱歷史溫度和均勻性數(shù)據(jù)。
    可做同一臺設備不同時間段、以及不同設備同一配方的數(shù)據(jù)對比;
    l 便攜易維護 便攜一體化設計,配備磁吸支架可貼靠于RTP表面, Type-C接口
    65W速充,可迅速更換TC- wafer。


    應用功能
    l 半導體制造工藝調(diào)校
    l RTP設備的測試、驗證
    l TC-Wafer的測試、驗證
    l 相 關(guān) 晶 圓 熱 處 理 設 備 的 測 試 、 驗 證 , 如
    CVD,PVD,Photo,等等;

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