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產(chǎn)品簡介
QFN48-1.0-16.7*16.7翻蓋老化座電源芯片測試可靠性測試功能燒錄
QFN48-1.0-16.7*16.7翻蓋老化座電源芯片測試可靠性測試功能燒錄
產(chǎn)品價格:¥138.00
上架日期:2024-03-23 14:28:35
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
最少起訂:1
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    型號QFN48-1.0-16.7x16.7翻蓋老化座
    封裝/規(guī)格插件
    類型DIP
    間距1.0
    總針腳數(shù)48 1
    圓孔/方孔圓孔
    觸頭鍍層
    工作溫度范圍-45~155℃
    包裝盒裝
    認證機構(gòu)CE
    最小包裝量1
    數(shù)量1
    封裝QFN
    批號以出貨為準
    品牌HMILU

    QFN48-1.0-16.7x16.7芯片測試座
    1.引腳:48 signal Pin 1 GND;
    2.間距:1.0mm
    3.尺寸:16.7x16.7mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.








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