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產(chǎn)品簡介
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試
產(chǎn)品價格:¥68.00
上架日期:2023-12-19 06:01:18
產(chǎn)地:廣東深圳
發(fā)貨地:廣東深圳
供應(yīng)數(shù)量:不限
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詳細說明
    產(chǎn)品參數(shù)
    型號QFN16-0.5 3*3翻蓋彈片老化座(帶頂針)
    封裝/規(guī)格插件
    類型DIP
    間距0.5
    總針腳數(shù)16 1
    圓孔/方孔圓孔
    觸頭鍍層
    工作溫度范圍-45~155℃
    包裝盒裝
    認證機構(gòu)CE
    最小包裝量1
    數(shù)量1
    封裝QFN
    批號以出貨為準
    品牌HMILU

    QFN16-0.5-3*3翻蓋測試座
    1.引腳:16 signal Pin 1 GND;
    2.間距:0.5mm
    3.尺寸:3*3mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.







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