| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 測試范圍 | S-U | ||
| 檢測對象 | 固體，液體，粉末狀 | ||
| 分析時間 | 60s（可調(diào)） | ||
| 檢出限 | 1ppm | ||
| 產(chǎn)地 | 江蘇昆山 | ||
| 重量 | 45Kg | ||
| 儀器尺寸 | 550mm*416mm*333mm | ||
| 環(huán)境溫度 | 15-30℃ | ||
| 操作難度 | 易 | ||
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 進出口產(chǎn)品ROHS測試 | ||
| 電源 | 220±5V | ||
| 外觀 | 銀白色 | ||
| 環(huán)境使用要求 | 無震動及腐蝕實驗室 | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 類型 | X熒光光譜儀 | ||
| 型號 | EDX 1800E | ||
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型號：EDX 1800E；
分析范圍：鉛,汞,鎘,鉻,砷,硒,銻,鋇,鐵,銅,鋅,鎳,氯,溴等；
分析精度：0.05（96以上）；
分析范圍：1ppm-99.9；
測量對象：粉末、固體、液體；
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）；
一次可同時分析24個元素；
能量分辨率為：（155±5）eV；
測量時間：60-200秒；
管壓：5-50kV；
管流：50μA-1000μA；
環(huán)境溫度：15℃-30℃；
環(huán)境濕度：35-70；
重量：45KG。
基本配置標準 | ||
項目 | EDX 1800B X熒光光譜儀 | EDX 1800E X熒光光譜儀 |
探測器 | 采用Si-Pin半導(dǎo)體探測器，電制冷，無需液氮制冷，可常溫保存，使用方便 | 采用 美國生產(chǎn)的新一代半導(dǎo)體SDD探測器，分辨率高，探測效率好 |
前置放大器與 主放大器電路 | 探測器內(nèi)包含前置放大器與主放大器，一體化設(shè)計保證儀器有更好的穩(wěn)定性和可靠性 | 新設(shè)計的前置放大器與主放大器電路，采用微電子模塊化技術(shù)，一體化設(shè)計保證儀器技術(shù)指標的一致和穩(wěn)定 |
測試分析軟件 | 的ROHS測試軟件；金屬鍍層分析軟件；成分分析軟件 | 的ROHS和無鹵測試軟件；合 號；金屬鍍層等分析軟件，內(nèi)嵌基本參數(shù)分析算法，可支持無標樣定性和定量分析 |
儀器技術(shù)指標 | ||
探測器分辨率 | 分辨率大道160±5eV（計數(shù)率1000/S左右時使用Fe55測得），而新型探測器，能提高測量的有害物質(zhì)的檢出線 | 分辨率144±5eV（計數(shù)率1000/S左右時使用Fe55測得） |
儀器測量精度 | 0.1(測試含量大于96樣品) | 0.05(測試含量大于96樣品) |
X光管的工作范圍 | 新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證光管的散熱系統(tǒng)，提高光管的使用壽命。高壓5-50KV電流能達到1mA（可根據(jù)客戶調(diào)試） | 全銅管外殼，提高散熱效率，延長光管的使用壽命。高壓5-50KV；電流能達到1.5mA（光管功率上限提高50） |
推薦應(yīng)用領(lǐng)域 | ROHS有害重金屬檢測；金屬鍍層分析；合金材料成分分析；不適合測量Na，Mg，Al，Si等輕量元素 | ROHS和無鹵；合 號，金屬鍍層及其它元素成分分析 |
重金屬環(huán)保檢測指標 | ||
ROHS測量精度 | 1.1000ppm左右的樣品，其測量精度偏差為±100ppm（以塑膠標樣為準） 2.100ppm左右的樣品，其測量精度偏差為±15ppm（以塑膠標樣為準） | 1.1000ppm左右的樣品，其測量精度偏差為±50ppm（以塑膠標樣為準） 2.100ppm左右的樣品，其測量精度偏差為±10ppm（以塑膠標樣為準） |
ROHS檢測范圍 | 可測試Cr，Hg，Pb，Br，Cd五種ROHS規(guī)定的有害重金屬元素。其檢出限可達到3ppm；同時，還可以測試其它有害重金屬，鹵素，軟件終身免費升級 | 可測試Cr，Hg，Pb，Br，Cd五種ROHS規(guī)定的有害重金屬元素。其檢出限可達到2ppm；同時，還可以測試其它有害重金屬，鹵素，軟件終身免費升級 |
儀器選配輔助軟件 | ||
成分分析軟件 | 支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文軟件） | 支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文軟件） |
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護測試數(shù)據(jù)不被隨意更改 | 具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護測試數(shù)據(jù)不被隨意更改 | |
光譜解析方法具有： 積，凈面積，高斯擬合，多元擬合，純元素擬合五種方法 | 光譜解析方法具有： 積，凈面積，高斯擬合，多元擬合，純元素擬合五種方法 | |
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