| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 發(fā)那科 | ||
| 公司名稱 | 上海仰光電子科技有限公司 | ||
| 維修設(shè)備類型 | 進(jìn)口設(shè)備維修 | ||
| 服務(wù)內(nèi)容 | 變頻器維修觸摸屏維修伺服驅(qū)動(dòng)器維修電機(jī)等等 | ||
| 工作時(shí)間 | 8 | 30-5 | 30 |
| 新舊程度 | 全新 | ||
| 可售賣地 | 全國(guó) | ||
FNAUC發(fā)那科系統(tǒng)屏維修 A04B-0094-B303花屏暗屏修理 免費(fèi)檢測(cè) 測(cè)試好發(fā)貨 有測(cè)試平臺(tái)
上海仰光電子科技有限公司
發(fā)那科系統(tǒng)觸摸屏維修常見(jiàn)故障，黑屏、花屏、按觸摸屏無(wú)反應(yīng)或反應(yīng)慢、錯(cuò)亂、進(jìn)不了系統(tǒng)界面、無(wú)背光、背光暗、有背光無(wú)字符、不能通信、按鍵無(wú)反應(yīng)；
發(fā)那科伺服電源模塊維修，日本FANUC伺服維修常見(jiàn)的故障有：1、2、5、8、9、01、09、19、20、56、U、L、無(wú)顯示等;發(fā)那科系統(tǒng)常見(jiàn)的故障有：5136、5139、401、414、433、434、443、449、460等。 可修復(fù)FANUC伺服器常見(jiàn)故障：無(wú)顯示、缺相、過(guò)流、過(guò)壓、欠壓、過(guò)熱、過(guò)載、接地、參數(shù)錯(cuò)誤、有顯示無(wú) 輸出、模塊損壞等;
維修FANUC發(fā)那科常見(jiàn)故障：無(wú)顯示、缺相、過(guò)流、過(guò)壓、欠壓、過(guò)熱、過(guò)載、接地、參數(shù)錯(cuò)誤、有顯示無(wú)輸出、模塊損壞、報(bào)錯(cuò)等。
一、維修發(fā)那科（FANUC）數(shù)控系統(tǒng)：
1：系統(tǒng)主機(jī)31i、32i、18i、16i、0i、18m、0m、21m等全系列
2：維修伺服驅(qū)動(dòng)器、主軸驅(qū)動(dòng)器、I/O、電源、CPU軸卡
3： 維修顯示器、顯卡、伺服電機(jī)、主軸電機(jī)
二、維修三菱（MITSUBISHI)數(shù)控系統(tǒng)：
1：M730、M720、M70、M64S、E68、E60、M50、M520等全系列
2：維修伺服驅(qū)動(dòng)器、主軸驅(qū)動(dòng)器、I/O、電源、CPU軸卡
3：維修顯示器、顯卡、伺服電機(jī)、主軸電機(jī)
三、銷售三菱、發(fā)那科數(shù)控機(jī)床配件：
包含伺服驅(qū)動(dòng)、系統(tǒng)主機(jī)、伺服電機(jī)、主軸電機(jī)、伺服電源、顯示器、顯卡、編碼器、手輪、手輪線、行程開(kāi)關(guān)、波段開(kāi)關(guān)、按鍵板、系統(tǒng)電纜、航空接頭、主軸編碼器等
四、維修主軸、維修電主軸、維修各種國(guó)內(nèi)外高速主軸、主軸現(xiàn)場(chǎng)做動(dòng)平衡
五、維修三菱主軸電機(jī)、維修FANUC主軸電機(jī)
六、維修三菱伺服電機(jī)、維修FANUC伺服電機(jī)
清潔電子設(shè)備
在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，電子設(shè)備很容易接觸灰塵、水汽和其他油污垢，從而縮短電子設(shè)備的使用壽命。油污灰塵還會(huì)降低生產(chǎn)效率，甚至影響終產(chǎn)品質(zhì)量。
因此，對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行zhuanye的清潔至關(guān)重要。捷維特維修中心擁有zhuanye的工業(yè)電子清潔設(shè)備。清潔完成后，如可能，還會(huì)對(duì)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
清潔服務(wù)流程：
您將故障設(shè)備寄送到我們的維修中心。
拆裝設(shè)備，分解至符合清潔標(biāo)準(zhǔn)的零部件級(jí)別。
裝有清潔液的“清洗機(jī)”利用超聲波振動(dòng)，清除零配件上的油垢。
在特殊的礦物水池中徹底清洗零件。
烘干時(shí)間取決于電子設(shè)備的尺寸大小和復(fù)雜程度。
重新組裝后進(jìn)行維修。
維修流程
首先維修工程師將對(duì)其進(jìn)行預(yù)防性維護(hù)，更換所有老化的易損零配件。如在預(yù)防性維護(hù)后仍無(wú)法排除故障，則需進(jìn)行全面的故障排查以確定故障原因并維修。
維修完成后，將通過(guò)我們的軟硬件平臺(tái)對(duì)該電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
