38DL PLUS測(cè)厚儀是一款開創(chuàng)超聲測(cè)厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測(cè)厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測(cè)量。
主要特性
- 可與雙晶和單晶探頭兼容。
- 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
- 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
- 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
- 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
- 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
- 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。
- 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
- 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
- 厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
- 差分模式和縮減率模式。
- 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
- 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
- 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
- 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
可選的編碼B掃描
這種強(qiáng)大的可選功能允許38DL PLUS連接到線性編碼掃描儀以生成編碼的B掃描。 38DL PLUS將捕獲并存儲(chǔ)距離傳播信息以及相應(yīng)的厚度讀數(shù)。 也捕獲最小厚度的波形。 用戶可以選擇測(cè)量之間的距離，并在雙向和單向模式之間進(jìn)行選擇。 在單次B掃描中最多可存儲(chǔ)10,000個(gè)厚度讀數(shù)。
穿透涂層技術(shù)
使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
溫度補(bǔ)償
材料溫度的變化影響聲速和厚度測(cè)量的精度。 溫度補(bǔ)償功能允許您手動(dòng)輸入校準(zhǔn)模塊的溫度和測(cè)量點(diǎn)的電流（高）溫度。 38DL PLUS自動(dòng)顯示溫度校正厚度。
氧化層/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）
38DL PLUS使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。
V聲程創(chuàng)建功能
用戶使用這項(xiàng)正等待專利通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。
用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（最小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；最大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。
自動(dòng)探頭識(shí)別
所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。
