測試電流為20V且功率為100W的固定輸出DC電源時(shí)，必須使用相同或更高的電壓、電流和功率。由電源吸收的電子負(fù)載電源。由于電源是具有20V恒定電壓輸出的恒壓CV電源，因此在測試期間，電子負(fù)載必須在恒流CC模式下運(yùn)行，并將其電流從0A調(diào)節(jié)至0A。
當(dāng)然，對于另一種DC-DC電源，電子負(fù)載必須在恒定電壓CV模式下運(yùn)行，在某些情況下，電子負(fù)載必須在CR或CP模式下運(yùn)行。
通常，建議在被測直流電源容量較大而電子負(fù)載容量不足時(shí)，串聯(lián)或并聯(lián)連接多個(gè)電子負(fù)載，以提高電子負(fù)載的性能。如果電流不足，則可以并聯(lián)多個(gè)電子負(fù)載。但是，如果電壓不足，是否可以串聯(lián)多個(gè)電子負(fù)載?這不僅阻止您執(zhí)行以下操作，而且還達(dá)到了測試的目的?？赡艿慕Y(jié)果是電子負(fù)載將被損壞。
然后，我們就能大概分析出這是為什么?
當(dāng)然，您需要提前了解電子負(fù)載的工作方式。電子負(fù)載控制和調(diào)節(jié)連接到輸入的FET功率場效應(yīng)管RDS。似乎連接了多個(gè)電子負(fù)載也沒有出現(xiàn)很大的問題。
如果將兩個(gè)電子負(fù)載以CC模式菊花鏈連接，并將它們設(shè)置為與圖2所示的電流值完全相同的電流值，則它們都將設(shè)置為10.00A。但是，實(shí)際上，當(dāng)一個(gè)負(fù)載實(shí)際為9.99A而另一個(gè)為10.01A時(shí)，電子負(fù)載不能為10.00A。
這樣，電子負(fù)載2不能達(dá)到設(shè)定值，從而FET的RDS連續(xù)降低到0(短路)，整個(gè)電壓被施加到電子負(fù)載1，并且過電壓被損壞。為什么不能串聯(lián)使用電子負(fù)載?有人建議兩個(gè)電子負(fù)載分別在恒流CC模式和恒壓CV模式下運(yùn)行，但這似乎允許設(shè)置電壓和電流點(diǎn)的運(yùn)行狀態(tài)。
但是，如何將這兩個(gè)電子負(fù)載輸入到已配置的CC和CV工作點(diǎn)中?
1、假設(shè)您首先設(shè)置了一個(gè)電子負(fù)載，然后將其連接到被測電源。由于在CC模式下設(shè)置的電子負(fù)載不包含任何電流，因此FET的RDS設(shè)置為0(短路)。由于該模式的電子負(fù)載中沒有電壓，因此FET的RDS設(shè)置為+∞(開路)。連接電源后，在CV模式下，電源的整個(gè)100V電壓都會施加到負(fù)載上，這可能會造成損壞。
2、有一種折衷的方法。通過調(diào)節(jié)直流電源的浪涌電壓的斜率，被測電源會緩慢增加輸出電壓(被測電源需要此功能)，輸入將電子負(fù)載設(shè)置為串聯(lián)連接的工作點(diǎn)，但是，如果在工作過程中發(fā)生異常并觸發(fā)了電子負(fù)載的保護(hù)，則兩個(gè)電子負(fù)載將短路或中斷，從而使100V電源過載，如果將設(shè)備連接到電子負(fù)載的輸入端子，將損壞電子負(fù)載。
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