BX-POL透射偏光顯微鏡 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
BX-POL偏光顯微鏡主要用于鑒別具有雙折射特性的物質(zhì),是藥理學、地質(zhì)學和機械、冶金等部門用來研究結(jié)晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。產(chǎn)品采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng),配置無應(yīng)力長工作距離平場消色差物鏡與大視野目鏡,高精度偏光載物臺,優(yōu)良的偏振觀察附件等?稍谕干淦,透/反射偏光狀態(tài)下獲得高品質(zhì)的顯微圖像,儀器造型美觀,結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,操作舒適方便,是廠礦企業(yè)、科研院所進行檢測、研究與教學的理想儀器。
|