這是特殊的成分分析,由一些具備較高成分分析技術(shù)實力第三方測試機構(gòu)推出,用于分析被測物中出現(xiàn)的瑕疵或影響功能的特殊因素(例如透明屏幕的污點等)。
濕法分析直讀光譜(OES)
電感耦合等離子體放射光譜(ICP-AES)
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)
原子吸收光譜(AAS)
XRF
伊先生:13684912512, (華瑞測試金屬成分分析測試化驗中心)
總機1:0755- 23093158;轉(zhuǎn)分機658;
直線2:0755-29362759;轉(zhuǎn)分機658;
直線3:0755-33561046;轉(zhuǎn)分機658;