以下是珠海EL硅片缺陷測(cè)試儀 、東莞組件el測(cè)試儀的詳細(xì)信息，由武漢三工光電設(shè)備制造有限公司自行提供，如果您對(duì)EL硅片缺陷測(cè)試儀的信息有什么疑問(wèn)，請(qǐng)與我司進(jìn)行進(jìn)一步聯(lián)系，獲取EL硅片缺陷測(cè)試儀的更多信息，請(qǐng)立即撥打電話：15671696592王女士或通過(guò)在線QQ1316003860與我們聯(lián)系。
EL硅片缺陷測(cè)試儀簡(jiǎn)介:光伏組件質(zhì)量日益成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)。太陽(yáng)電池的切片、擴(kuò)散、焊接、層壓、和裝框等工藝都可能造成內(nèi)部缺陷，如裂紋、斷柵、黑片、碎片、電阻率不均勻等。這些肉眼看不見(jiàn)的缺陷 將會(huì)影響轉(zhuǎn)換效率，降低可靠性，縮短使用壽命，降低品質(zhì)質(zhì)量。中心自主研發(fā)的太陽(yáng)電池紅外檢測(cè)技術(shù)可以方便快捷地檢測(cè)出上述缺陷，具有靈敏度高、檢測(cè)速度快、結(jié)果形象等優(yōu)點(diǎn)，是提升光伏組件品質(zhì)的關(guān)鍵設(shè)備。在線式設(shè)計(jì)具有自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)。紅外檢測(cè)可以全面掌握太陽(yáng)電池內(nèi)部問(wèn)題，為改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供依 據(jù)，提升產(chǎn)品質(zhì)量，可以對(duì)問(wèn)題組件進(jìn)行及時(shí)返修，降低損失。此項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)獲得國(guó)家專(zhuān)利保護(hù)，一項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利和實(shí)用新型專(zhuān)利已經(jīng)獲得授權(quán)，多項(xiàng)專(zhuān)利正在受理中。
EL硅片缺陷測(cè)試儀設(shè)備：
1) 針對(duì)微裂紋、碎片、斷柵、虛焊、波紋等缺陷
2) 紅外成像技術(shù)、超高分辨率
3) 高速檢測(cè) ：3s-8s；
4) 最大測(cè)試面積：2m×1.6m
5) 靈敏度：小于0.2um;
6) 具有圖象自動(dòng)識(shí)別功能；
7) 在線式設(shè)計(jì)；
8) 軟件不斷升級(jí)
EL硅片缺陷測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn):
進(jìn)口關(guān)鍵部件：采用原裝進(jìn)口紅外相機(jī)，保證了設(shè)備的整體品質(zhì)。
全封閉式光路設(shè)計(jì)：封閉式光路設(shè)計(jì)可保證設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境
強(qiáng)大專(zhuān)用測(cè)試軟件：全中文顯示界面，可自動(dòng)手動(dòng)掃描圖形碼編號(hào)并按編碼進(jìn)行文件保存?？煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié)，方便判斷。
EL硅片缺陷測(cè)試儀應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
EL硅片缺陷測(cè)試儀設(shè)備主要參數(shù)：
型號(hào)規(guī)格 |
EL140S-M |
有效測(cè)試面積 |
1200mm X 2100mm |
分辨率 |
140萬(wàn)像素或600萬(wàn)像素 |
靈敏度 |
可檢測(cè)出裂紋寬度小于0.2μm |
測(cè)試時(shí)間 |
1s—60s自由設(shè)定 |
測(cè)試方式 |
無(wú)接觸式 |
電源參數(shù) |
單相220V 10A 最大加載電壓80V，最大加載電流 10A |
配置 |
測(cè)試機(jī)臺(tái)（含紅外成像儀）、電腦、專(zhuān)業(yè)軟件 |
