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EL硅片缺陷測試儀簡介:光伏組件質(zhì)量日益成為人們關(guān)注的焦點。太陽電池的切片、擴(kuò)散、焊接、層壓、和裝框等工藝都可能造成內(nèi)部缺陷,如裂紋、斷柵、黑片、碎片、電阻率不均勻等。這些肉眼看不見的缺陷 將會影響轉(zhuǎn)換效率,降低可靠性,縮短使用壽命,降低品質(zhì)質(zhì)量。中心自主研發(fā)的太陽電池紅外檢測技術(shù)可以方便快捷地檢測出上述缺陷,具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果形象等優(yōu)點,是提升光伏組件品質(zhì)的關(guān)鍵設(shè)備。在線式設(shè)計具有自動化程度高等特點。紅外檢測可以全面掌握太陽電池內(nèi)部問題,為改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供依 據(jù),提升產(chǎn)品質(zhì)量,可以對問題組件進(jìn)行及時返修,降低損失。此項技術(shù)已經(jīng)獲得國家專利保護(hù),一項發(fā)明專利和實用新型專利已經(jīng)獲得授權(quán),多項專利正在受理中。
EL硅片缺陷測試儀設(shè)備:
1) 針對微裂紋、碎片、斷柵、虛焊、波紋等缺陷
2) 紅外成像技術(shù)、超高分辨率
3) 高速檢測 :3s-8s;
4) 最大測試面積:2m×1.6m
5) 靈敏度:小于0.2um;
6) 具有圖象自動識別功能;
7) 在線式設(shè)計;
8) 軟件不斷升級
EL硅片缺陷測試儀產(chǎn)品特點:
進(jìn)口關(guān)鍵部件:采用原裝進(jìn)口紅外相機(jī),保證了設(shè)備的整體品質(zhì)。
全封閉式光路設(shè)計:封閉式光路設(shè)計可保證設(shè)備長期穩(wěn)定運,更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境
強(qiáng)大專用測試軟件:全中文顯示界面,可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進(jìn)行文件保存??煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié),方便判斷。
EL硅片缺陷測試儀應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
EL硅片缺陷測試儀設(shè)備主要參數(shù):
型號規(guī)格 |
EL140S-M |
有效測試面積 |
1200mm X 2100mm |
分辨率 |
140萬像素或600萬像素 |
靈敏度 |
可檢測出裂紋寬度小于0.2μm |
測試時間 |
1s—60s自由設(shè)定 |
測試方式 |
無接觸式 |
電源參數(shù) |
單相220V 10A 最大加載電壓80V,最大加載電流 10A |
配置 |
測試機(jī)臺(含紅外成像儀)、電腦、專業(yè)軟件 |