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紅外測溫傳感器直接感應熱輻射，為非接觸溫度測量提供完美的解決方案，它的具有創(chuàng)新的硅基微導際醣Ｖち慫募玫某て諼榷ㄐ裕淺５偷奈露攘槊糲凳?極好的光電特性。熱電堆紅外傳感器使非接觸溫度測量系統(tǒng)具備很低的價格。它不需要冷卻，但在整個溫度測量范圍內(nèi)能達到±1℃的精度。對于比較窄的溫度測量范圍，例如體溫測量，精度可以達到±0.1℃。相關原理如下：
　　非接觸紅外測溫技術可快速方便地測量物體的表面溫度，不需要機械地接觸被測物體而快速測得溫度讀數(shù)，能可靠地測量熱的、危險的或難以接觸的物體，而不會污染或損壞被測物體。紅外測溫有著響應時間快、非接觸、使用安全及使用壽命長等優(yōu)點，在產(chǎn)品質量控制和監(jiān)測、設備在線故障診斷、安全保護以及節(jié)約能源等方面發(fā)揮了正在發(fā)揮著重要作用。
　　一切溫度高于絕對零度的物體都在不停地向周圍空間發(fā)出紅外輻射能量。物體的紅外輻射特性一輻射能量的大小及其按波長的分布一與它的表面溫度有著十分密切的關系。因此,通過對物體自身輻射的紅外能量的測量，便能準確地測定它的表面溫度，這就是紅外輻射測溫所依據(jù)的客觀基礎。紅外位于可見光和無線電波之間，紅外波長常用微米表示，波長范圍為0.7微米－1000微米，實際上，0.7微米－14微米波帶用于紅外測溫。
紅外測溫由光學系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成。光學系統(tǒng)匯聚其視場內(nèi)的目標紅外輻射能量，視場的大小由測溫儀的光學零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上并轉變?yōu)橄鄳碾娦盘枴Ｔ撔盘柦?jīng)過放大器和信號處理電路，并按照其內(nèi)部的算法和目標發(fā)射率校正后轉變?yōu)楸粶y目標的溫度值。有幾個決定精確測溫的重要因素，最重要的因素是發(fā)射率、視場、光學分辨率(光斑的距離和光斑的位置)。
　　發(fā)射率－所有物體會反射、透過和發(fā)射能量，只有發(fā)射的能量能指示物體的溫度。自然界中存在的實際物體，幾乎都不是黑體。所有實際物體的輻射量除依賴于輻射波長及物體的溫度之外，還與構成物體的材料種類、表面粗糙度、理化結構、材料厚度、制備方法、熱過程以及表面狀態(tài)和環(huán)境條件等因素有關。因此，為使黑體輻射定律適用于所有實際物體，必須引入一個與材料性質及表面狀態(tài)有關的比例系數(shù)，即發(fā)射率，該系數(shù)表示實際物體的熱輻射與黑體輻射的接近程度，其值在零和小于1的數(shù)值之間。黑體是一種理想化的輻射體，它吸收所有波長的輻射能量,沒有能量的反射和透過，其表面的發(fā)射率為1。根據(jù)輻射定律，只要知道了材料的發(fā)射率，就知道了任何物體的紅外輻射特性。
　　視場－確保被測目標大于儀器測量時的光斑尺寸，目標越小，就應離它越近。當精度特別重要時，要確保目標至少２倍于光斑尺寸，建議被測目標尺寸超過視場大小的50%為好。如果目標尺寸小于視場，背景輻射能量就會進入測溫儀，干擾測溫讀數(shù)，造成誤差。相反，如果目標大于測溫儀的視場，測溫儀就不會受到測量區(qū)域外面的背景影響。
　　紅外測溫儀的光學系統(tǒng)從圓形測量光斑收集能量并聚焦在探測器上，光學分辨率定義為測溫儀到目標的距離與被測光斑直徑S之比(D：Ｓ)。比值越大，測溫儀的分辨率越高，被測光斑尺寸也就越小。紅外光學的最新改進是增加了硅透鏡的近焦特性,可對小目標區(qū)域提供精確測量，還可防止背景溫度的影響。

一、特點：
·應用在TO-39和TO-18封裝
·單、雙或者四單元
·8單元線性陣列和4X4矩形陣列，具備帶多路復用的專用集成電路和各種各樣的光學透鏡
·優(yōu)異的光電特性，極低的溫度系數(shù)
·適合窄帶和寬帶應用的各種光學濾波器
·內(nèi)置環(huán)境溫度參考(熱電阻)
·在整個紅外光譜范圍連續(xù)響應
·由于低內(nèi)阻(<100kΩ)，對電磁脈沖(EMP)不敏感
·基于CMOS硅微機械技術