輸入模塊 1794-N2
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時(shí)可采用兩種判斷方法:a.測試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點(diǎn).
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時(shí),又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
輸入模塊 1794-N2
| 1794-ACN15 |
| 1794-ACNR15 |
| 1794-ACNR15XT |
| 1794-ADN |
| 1794-ADNK |
| 1794-AENT |
| 1794-AENTR |
| 1794-AENTRXT |
| 1794-CE1 |
| 1794-CE3 |
| 1794-CJC2 |
| 1794-IA16 |
| 1794-IA8 |
| 1794-IA8I |
| 1794-IB10XOB6 |
| 1794-IB10XOB6XT |
| 1794-IB16 |
| 1794-IB16D |
| 1794-IB16XOB16P |
| 1794-IB16XT |
| 1794-IB32 |
| 1794-IB8 |
| 1794-IC16 |
| 1794-ID2 |
| 1794-IE12 |
| 1794-IE4XOE2 |
| 1794-IE4XOE2XT |
| 1794-IE8 |
| 1794-IE8XOE4 |
| 1794-IE8XT |
| 1794-IF2XOF2I |
| 1794-IF2XOF2IXT |
| 1794-IF4I |
| 1794-IF4IXT |
| 1794-IF8IH |
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| 1794-IH16 |
| 1794-IJ2 |
| 1794-IJ2XT |
| 1794-IM16 |
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| 1794-IP4 |
| 1794-IR8 |
| 1794-IRT8 |
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| 1794-LBL |
| 1794-N2 |
| 1794-NM1 |
| 1794-OA16 |
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| 1794-OC16 |
| 1794-OE12 |
| 1794-OE4 |
| 1794-OE4XT |
| 1794-OF4I |
| 1794-OF4IXT |
| 1794-OF8IH |
| 1794-OG16 |
| 1794-OM16 |
| 1794-OM8 |
| 1794-OV16 |
| 1794-OV16P |
| 1794-OV32 |
| 1794-OW8 |
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| 1794-PS13 |
| 1794-PS3 |
| 1794-TB2 |
| 1794-TB3 |
| 1794-TB32 |
| 1794-TB32S |
| 1794-TB37DS |
| 1794-TB3G |
| 1794-TB3GK |
| 1794-TB3GS |
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| 1794-TB3K |
| 1794-TB3S |
| 1794-TB3SK |
| 1794-TB3T |
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| 1794-TB3TS |
| 1794-TB3TSK |
| 1794-TB62DS |
| 1794-TBN |
| 1794-TBNF |
| 1794-TBNK |
| 1794-VHSC |
2021年，山西輸氣分公司與中控智網(wǎng)開啟合作，選用中控技術(shù)自主研發(fā)、100%自主可控的GCS-G5系列PLC產(chǎn)品替代國外品牌產(chǎn)品進(jìn)行改造升級。改造后，往復(fù)式冷卻壓縮機(jī)控制程序在各方面有了極大提升。
| DDS3.1-W050-DA01-00 |
| DDS02 1-W050-D |
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