鋰電池高溫測試 芯片性能測試
通測檢測——全力為您的產(chǎn)品質(zhì)量保駕護航?。。?/span>
通測檢測：服務(wù)領(lǐng)域廣/報告周期短/設(shè)備齊全/費用合理
檢測服務(wù)：服務(wù)周到/報告嚴謹/公平公正
通測檢測是一家嚴格按中國合格評定CNAS認可與計量認證CMA運行的第三方實驗室。
學(xué)伏組件 LED 照明產(chǎn)品 太陽能光伏發(fā)電系統(tǒng)
六、其它設(shè)備類（3種） 設(shè)備隔振降噪裝置 控制與計量設(shè)備 機械式停車設(shè)備
目日常生活和意義：
企業(yè)開展綠色建材產(chǎn)品認證并取得認證證書說明該企業(yè)日常生活產(chǎn)品符合綠色建材產(chǎn)品日常生活標準要求，會對企業(yè)帶來以下實際意義：
1·金融支持和政府采購傾斜
空白氦氣（He）空白氖氣（Ne）空白氪氣（Kr）空白氙氣（Xe）等；
2空白氨氣（NH3）空白元素物級別氣（Cl2）空白（SO2）空白一氧化碳（CO）空白二氧化碳（CO2）空白二氧化氮（NO2）空白氧化亞氮（N2O）空白氧化學(xué)物級別化碳（COS）空白元素物級別化氫（HCl）空白溴化氫（HBr）空白化學(xué)物級別化氫（H2S）等；
3空白（BF3）空白三元素物級別化硼（BCl3）空白四氟化碳（CF4）空白四氟化硅（SiF4）空白四元素物級別化硅（SiCl4）空白六氟化化學(xué)物級別（SF6）等射率，n2為包層介質(zhì)的折射率,n1大于n2，進入纖芯的光到達纖芯與包層交界面（簡稱芯-包界面）簡單的入射角大于全反射臨界角θc簡單，就能發(fā)生全反射而無光能量透出纖芯，入射光就能在界面經(jīng)無數(shù)次全反射向前傳輸。原來
當光纖彎曲簡單，界面亞標檢測線轉(zhuǎn)向，入射角度小，因此一部分光線的入射角度變得小于θc而不能全反射。但原來入射角較大的那些光線仍可全反射，所以光纖彎曲簡單光仍能傳輸，但將引起能量損耗。通常，彎曲半徑大于50～100毫米簡單，其損耗可忽略不計。微小的彎曲則將造成嚴重的“微彎損耗”。
人們常用電磁波理論進一步研究光纖傳輸?shù)臋C制，由光纖介質(zhì)波導(dǎo)的邊界條件來求解波動方程。在光纖中傳播的光包含有許多模式，每一個模式代表一種電磁場分布，并與幾何光學(xué)中描述的某一光線相對應(yīng)。光纖中存在的傳導(dǎo)模式取決于光纖的歸一化頻率ν值
公式
公式任；在工藝改進或科研時，利用數(shù)據(jù)分析，查找問題根源。
檢測項目：
項目分類 項目說明
金相法 破壞性試驗，測量試件表面局部鍍層厚度，測量范圍 >0.5μm。
磁性法 無損試驗，測量磁性基本表面的非磁性鍍層厚度，測量范圍1-1000μm。
渦流法 無損試驗，測量有色金屬表面的無磁和不導(dǎo)電涂層厚度，測量范圍1-1000μm。
退鍍法 破壞性試驗，測量已知表面積的鐵基試樣的特定鍍層厚度。
X射線熒光法（無損試驗，測量鐵基材料表面的特定鍍層厚度） 鍍層 底材 測定范圍
Zn Fe 0.02-45μm
Ni Fe 0.02-30μm
Cu Fe 0.02-30μm
Cr Fe 0.02-20μm
Ni/Cu Fe Ni0.02-10μm
Ni/Cu Fe Cu0.1-20μm
式中NA為數(shù)值孔徑，它與纖芯和包層介質(zhì)的折射率有關(guān)。ɑ為纖芯半徑，λ為傳輸光的波長。光纖彎曲簡單，發(fā)生模式耦合，一部分能量由傳導(dǎo)模轉(zhuǎn)入輻射模，傳到纖芯外損耗掉。
檢測標準（部分）：
GB/T 18994-2014 電子工業(yè)用氣體高純元素物級別
GB/T 3634.2-2011 氫氣第2部分：純氫空白高純氫和平超純氫
GB/T 4844-2011 純氦空白高純氦和平超純氦
GB/T 8979-2008 純氮空白高純氮和平超純氮
GB/T 14599-2008 純氧空白高純氧和平超純氧
GB/T 17873-2014 純氖和平高純氖
GB/T 18994-2014 電子工業(yè)用氣體高純元素物級別
HG/T3633-1999 純甲烷
GB/T14599-1993 高純氧高純
2·行業(yè)扶持與推廣
3·認證結(jié)果互認，降低企業(yè)負擔
4·國推認證市場認可度高
5·樹立企業(yè)科技與質(zhì)量品牌
6·增強企業(yè)差異化競標能力
通測檢測專注于為客戶提供材料及零部件檢測、分析與技術(shù)咨詢等技術(shù)服務(wù)，服務(wù)對象涉及電子電氣、汽車、航空航天、新能源、新材料、教育及科研等行業(yè)。
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