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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
興城電阻失效分析
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產(chǎn)品價(jià)格:¥600
上架日期:2019-11-19 15:06:38
產(chǎn)地:蘇州
發(fā)貨地:本地至全國(guó)
供應(yīng)數(shù)量:不限
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詳細(xì)說(shuō)明
    -1、簡(jiǎn)介 電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過(guò)分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。 電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。 2、服務(wù)對(duì)象 元器件生產(chǎn)商:深度介入產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、可靠性試驗(yàn)、售后等階段,為客戶提供改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝的理論依據(jù)。 組裝廠:劃分責(zé)任,提供索賠依據(jù);改進(jìn)生產(chǎn)工藝;篩選元器件供應(yīng)商;提高測(cè)試技術(shù);改進(jìn)電路設(shè)計(jì)。 器件代理商:區(qū)分品質(zhì)責(zé)任,提供索賠依據(jù)。 整機(jī)用戶:提供改進(jìn)操作環(huán)境和操作規(guī)程的依據(jù),提高產(chǎn)品可靠性,樹立企業(yè)品牌形象,提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。 分析過(guò)的元器件種類: 集成電路、場(chǎng)效應(yīng)管、二極管、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無(wú)源器件。 3、主要失效模式(但不限于) 開(kāi)路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等 電子元器件失效分析 電子元器件失效分析 發(fā)光二極管開(kāi)路失效 二極管短路失效(金屬遷移) 電子元器件失效分析 電子元器件失效分析 漏電失效(靜電擊穿) 燒毀失效 電子元器件失效分析 電參數(shù)漂移 4、常用失效分析技術(shù)手段 電測(cè): 連接性測(cè)試 電參數(shù)測(cè)試 功能測(cè)試 無(wú)損分析技術(shù): X射線透視技術(shù) 三維透視技術(shù) 反射式掃描聲學(xué)顯微技術(shù)(C-SAM) 制樣技術(shù): 開(kāi)封技術(shù)(機(jī)械開(kāi)封、化學(xué)開(kāi)封、激光開(kāi)封) 去鈍化層技術(shù)(化學(xué)腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機(jī)械研磨去鈍化層) 微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP) 電子元器件失效分析 顯微形貌像技術(shù): 光學(xué)顯微分析技術(shù) 掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù) 電子元器件失效分析 失效定位技術(shù): 顯微熱像技術(shù)(熱點(diǎn)和溫度繪圖) 液晶熱點(diǎn)檢測(cè)技術(shù) 光發(fā)射顯微分析技術(shù)(EMMI) 失效復(fù)現(xiàn)/驗(yàn)證 表面元素分析: 掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS) 俄歇電子能譜分析(AES) X射線光電子能譜分析(XPS) 二次離子質(zhì)譜分析(SIMS) 5、產(chǎn)生效益 提供電子元器件設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)的依據(jù),指引產(chǎn)品可靠性工作方向; 查明電子元器件失效根本原因,有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施; 提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性,提升企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力; 明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方,為司法仲裁提供依據(jù)。 勤發(fā)發(fā)
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