參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
IEC 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》
GJB150.4A-2009《jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《jun用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)》
GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn)》
GJB367A-2001《jun用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27 低溫試驗(yàn)
SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.4 低溫負(fù)荷試驗(yàn)
SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.5 低溫貯存試驗(yàn)
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
江測(cè)檢測(cè)嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。
