低溫試驗(yàn)介紹
試驗(yàn)的目的
是檢驗(yàn)試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍名民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。
低溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
使材料發(fā)硬變脆；
潤滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤滑作用減小；
電子元器件性能發(fā)生變化；
水冷凝結(jié)冰；
密封件失效；
材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
