先，創(chuàng)建一組代表重要幾何細(xì)節(jié)的邊界的直線段，其次，通過(guò)刪除線段相交并通過(guò)將直線邊界線段組織成閉合環(huán)和區(qū)域來(lái)清理幾何形狀，使用名為deLaunay網(wǎng)格生成的數(shù)值過(guò)程創(chuàng)建了一組形狀良好的三角形(不小的內(nèi)角)。
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顯微硬度測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過(guò)認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
箱體了夾具的振動(dòng)，同樣，可以得出這樣的結(jié)論:從和第二加速度計(jì)的響應(yīng)曲線讀取的峰值是由夾具動(dòng)力學(xué)引起的，4實(shí)驗(yàn)3在此實(shí)驗(yàn)中，另一種測(cè)量配置用于側(cè)壁振動(dòng)檢查，同樣，兩個(gè)微型加速度計(jì)放在盒子的頂部(表18)。 顆粒污染物被證明是灰塵顆粒，如55中的點(diǎn)1所示，在該區(qū)域上積累了許多顆粒污染物，主要成分是Si，Al，Ca和S，與先前的情況一致，散布在污染物上的金屬小顆粒是氧化錫/氫氧化錫，如55中的點(diǎn)2所示，氧化錫/氫氧化錫留在粉塵污染物上。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過(guò)使用自重產(chǎn)生力來(lái)進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問(wèn)題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾?，一件樂(lè)器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
為了驗(yàn)證在定義連接器所連接的PCB邊緣的邊界條件時(shí)所做的假設(shè)，還進(jìn)行了其他分析，基于一些基本假設(shè)來(lái)開(kāi)發(fā)有限元模型，給出如下:假定電子組件本身是剛性的，假定電子組件的引線為梁結(jié)構(gòu)，并用梁元素建模，印刷儀器維修是復(fù)合結(jié)構(gòu)。 它將閃爍一個(gè)錯(cuò)誤代碼，說(shuō)明:如果由于故障排除或升級(jí)而將回路中的原始單元的伺服電機(jī)或其他驅(qū)動(dòng)器更換了，解決方案:這很簡(jiǎn)單，上電并注冊(cè)代碼后，在驅(qū)動(dòng)器和電源上進(jìn)行復(fù)位，然后重啟電源和設(shè)備，電源部分中的欠壓。
2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來(lái)的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問(wèn)題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
因?yàn)橐粋€(gè)單元在初的低應(yīng)力下進(jìn)行測(cè)試，如果在預(yù)定時(shí)間內(nèi)沒(méi)有失效，則應(yīng)力會(huì)增加[60]，當(dāng)所有單元都發(fā)生故障或觀察到一定數(shù)量的故障時(shí)，或者直到經(jīng)過(guò)一定時(shí)間(直到測(cè)試硬件不允許繼續(xù)測(cè)試)時(shí)，測(cè)試才終止，根據(jù)IEST。 您將收到警報(bào)，示例:電子產(chǎn)品制造商可能會(huì)遇到以下三種警報(bào)之[不推薦用于新設(shè)計(jì)"-NRND產(chǎn)品已經(jīng)投入生產(chǎn)，并且不會(huì)過(guò)時(shí)，但是，由于以下兩個(gè)原因之一，使用這些組件是錯(cuò)誤的，或者有更好或更經(jīng)濟(jì)的替代方案可用。
3、環(huán)境問(wèn)題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專(zhuān)用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒(méi)有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
自動(dòng)光學(xué)檢查可以在流經(jīng)制造工廠的組裝過(guò)程中的多個(gè)階段使用，并且是一種非接觸式檢查儀器維修的潛在問(wèn)題的方法，包括以下方面:點(diǎn)燃的線索區(qū)域缺陷組件偏移焊點(diǎn)損壞的組件橋接墓碑缺少組件BGA共面性這種光學(xué)檢查可以在三維級(jí)別上執(zhí)行。 Wowk1991，以及Ireson和Coombs1988)，圖1-1中的浴盆曲線為討論部件壽命老化，使用壽命和以老化為主的三個(gè)階段中統(tǒng)計(jì)故障率的特征提供了一種方法伺服驅(qū)動(dòng)器故障率浴缸失效率曲線如上曲線所示。 電導(dǎo)率有所不同，灰塵3的電導(dǎo)率高，為3645米·S/cm，約為灰塵4的電導(dǎo)率的34倍，去離子水的電導(dǎo)率低于EC表的低檢測(cè)限，即2米·S/cm，如等式(2)所示，由不同粉塵樣品產(chǎn)生的水溶液的電導(dǎo)率是離子濃度的函數(shù)。
端溫度，振動(dòng)以及軍方，工廠車(chē)間和汽車(chē)引擎蓋下遇到的污物。為了確保電子設(shè)備的質(zhì)量和可靠性，半導(dǎo)體制造商需要在工程和生產(chǎn)測(cè)試階段模擬惡劣的環(huán)境。這就是MPIThermalTA-5000系列ThermalAir溫度測(cè)試產(chǎn)品成為測(cè)試一部分的原因。機(jī)械故障模式和影響分析（MFMEA）簡(jiǎn)介裝配線的效率取決于工具和設(shè)備的設(shè)計(jì)和制造可靠性。假設(shè)您的裝配線有10臺(tái)機(jī)器。每臺(tái)機(jī)器可以正常運(yùn)行時(shí)間達(dá)到90％。每臺(tái)機(jī)器可能會(huì)在隨機(jī)時(shí)間發(fā)生故障，或彼此互斥。10臺(tái)機(jī)器的生產(chǎn)線的可靠性為0.9（90％），每臺(tái)機(jī)器的可靠性為35％。這意味著組裝線的某些部分可能會(huì)下降65％的時(shí)間。將此原理擴(kuò)展到復(fù)雜的裝配操作，其中需要十多臺(tái)單獨(dú)的機(jī)器來(lái)生產(chǎn)產(chǎn)品。
在溫度-濕度-偏壓測(cè)試(50oC，90%RH和10VDC)下評(píng)估了粉塵對(duì)4種電化學(xué)遷移和腐蝕的影響，故障時(shí)間被量化，為了進(jìn)一步分析特性的差異，進(jìn)行了粉塵水溶液的吸水率測(cè)試，SEM/EDS組成分析，離子種類(lèi)/濃度分析以及電導(dǎo)率和pH測(cè)量。 匯總所有這些信息后，將開(kāi)發(fā)適合材料和您自己設(shè)施的制造過(guò)程，通常，這些預(yù)防措施足以確保成功，但一種材料Duroid則需要多加注意，先，層壓板制造商自由地承認(rèn)材料會(huì)移動(dòng)，但僅限于蝕刻過(guò)程中，他們指出的關(guān)鍵是先蝕刻80%的銅。 該Android驅(qū)動(dòng)設(shè)備聲稱(chēng)標(biāo)稱(chēng)厚度僅為6.65毫米，但是，由于另一家OEM公司中興通訊(ZTE)已宣布將在未來(lái)幾個(gè)月內(nèi)推出6.2mm的設(shè)備，因此沒(méi)有足夠的時(shí)間來(lái)享受這一前沿技術(shù)，圖智能手機(jī)設(shè)備相對(duì)于推出年份的厚度為了實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。 這種裂紋經(jīng)常出現(xiàn)在產(chǎn)品過(guò)分積地去除銅(面化)的產(chǎn)品中，導(dǎo)致在薄的焊盤(pán)上，通常只剩下銅箔，而所有的微孔電解銅鍍層都被去除了，移除膝蓋/角鍍層后，會(huì)在墊片和通孔鍍層之間形成[對(duì)接"連接，在墊片旋轉(zhuǎn)期間會(huì)破壞該連接。
在兩個(gè)方向上均相同的低??讀數(shù)表示沒(méi)有內(nèi)部調(diào)節(jié)器（或短路的調(diào)節(jié)器）直接連接到電刷。讀數(shù)高或每個(gè)方向上的讀數(shù)都不同，則表明內(nèi)部有一個(gè)電子調(diào)節(jié)器-或者您可以只用眼球確定電動(dòng)機(jī)內(nèi)部是否有任何電子器件?？梢圆鹦哆@些零件并更換壞零件。電機(jī)上可能有一個(gè)調(diào)節(jié)孔。（請(qǐng)使用塑料螺絲刀進(jìn)行調(diào)整，以免造成電機(jī)內(nèi)部短路?。┲鲃?dòng)調(diào)節(jié)器，帶有來(lái)自電機(jī)繞組的轉(zhuǎn)速表反饋-將有4根線，而不是從電機(jī)中引出2根線-2根用于電源，2根用于轉(zhuǎn)速?？刂齐娐房赡軗p壞，或者轉(zhuǎn)速輸出可能死了（速度太高）。如果光學(xué)選通盤(pán)位于電機(jī)軸上，則它可能是速度控制電路的一部分。如果它在一個(gè)帶盤(pán)上-可能是卷帶盤(pán)-那么它只是操作（電子）磁帶計(jì)數(shù)器或向控制器發(fā)送卷帶盤(pán)正在轉(zhuǎn)動(dòng)的信號(hào)-以捕獲磁帶溢出。
安靈自動(dòng)電位滴定儀維修規(guī)模大一家工業(yè)控制設(shè)備制造商要求對(duì)其經(jīng)過(guò)經(jīng)典的高壽命測(cè)試（HALT）的一種新電源產(chǎn)品的性能進(jìn)行審查和評(píng)論。HALT包括冷步應(yīng)力熱步應(yīng)力快速熱轉(zhuǎn)變振動(dòng)階躍應(yīng)力熱與振動(dòng)相結(jié)合本文回顧了每種故障模式，在HALT過(guò)程中發(fā)生故障的時(shí)間以及故障的根本原因。它將提供有關(guān)故障模式與現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境和可能采取的糾正措施的相關(guān)性的評(píng)估。為了提供切合實(shí)際和有效的指導(dǎo)，本報(bào)告假設(shè)工作溫度范圍為5oC至50oC（半控制工業(yè)場(chǎng)所），存儲(chǔ)溫度范圍為-C至65oC。冷步應(yīng)力下面列出了冷步應(yīng)力測(cè)試的結(jié)果：在-30°C下：四分之一視頻圖形陣列（QVGA）TFT液晶顯示器（LCD）的刷新速度變慢。在5°C至50°C的操作范圍內(nèi)重新檢查時(shí)，刷新速度恢復(fù)正?？苫謴?fù)故障在-40°C下：LCD的刷新速率停止并且顯示變暗。 kjbaeedfwerfws
