晶圓顆粒缺陷檢查燈 高照度晶圓LED檢查燈 晶圓顆粒缺陷檢查燈 Wafer表面檢查燈光源 白光晶圓檢查燈 黃綠光晶圓檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈(或者是白光),檢測(cè)燈的原理利用適合的LED燈源,通過(guò)光學(xué)鏡片折射出特殊波長(zhǎng)的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作員肉眼可識(shí)別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點(diǎn),取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機(jī)臺(tái),直接通過(guò)照明光線和肉眼,觀測(cè)出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,極大的節(jié)省了一般工廠的采購(gòu)成本。晶圓顆粒缺陷檢查燈 采用人眼最敏感510-590NM之間波長(zhǎng)光,來(lái)做最簡(jiǎn)單與明確的判別,可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光,幾乎可檢測(cè)出所有塵埃,大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬(wàn)小時(shí)以上。光源強(qiáng)度可達(dá)30萬(wàn)LX,最小可以檢測(cè)1μ的表面臟污,比傳統(tǒng)的檢查燈